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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

  • HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)

    HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍(lán)寶石等半導(dǎo)體...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2023/2/27 8:28:25 對比

  • HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)

    HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)產(chǎn)品介紹HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統(tǒng)專門用于包括硅材料等半導(dǎo)體晶圓及晶環(huán)生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)晶圓內(nèi)部的機(jī)械隱裂等肉...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2023/2/27 8:26:38 對比

  • HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀

    HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀產(chǎn)品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產(chǎn)中的硅棒硅芯內(nèi)部的的裂縫、雜質(zhì)...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2023/2/27 8:24:41 對比

  • PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)：NIR-PLuS-B

    產(chǎn)品介紹：NIR-PLUS/B檢測系統(tǒng)是一款光伏檢測的綜合分析系統(tǒng)，既采用紅外技術(shù)對裂紋，孔洞，微結(jié)晶，雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點(diǎn)等進(jìn)行檢測，又使用PL（光致發(fā)光）技術(shù)對...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/13 11:08:53 對比

  • 太陽能電池和組件在線檢測系統(tǒng)：PV-LIT

    產(chǎn)品介紹:PV-LIT太陽能電池和組件在線檢測系統(tǒng)可對太陽能電池及完整的太陽能組件的各種缺陷進(jìn)行全自動檢測
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/13 11:07:12 對比

  • 太陽能電池量子效率測試儀：PVE300

    產(chǎn)品介紹:我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，PVE300能夠快速并準(zhǔn)確的給出分析數(shù)據(jù)，是經(jīng)過市場檢驗(yàn)的被廣泛應(yīng)用的的...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/13 11:05:57 對比

  • 太陽能電池量子效率測試儀：PH-IQE200

    產(chǎn)品介紹:PH-IQE200為太陽能電池光譜響應(yīng)測試，或稱量子效率QE（QuantumEfficiency）測試，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE(Monohromati...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/13 11:04:37 對比

  • AA*太陽能模擬器：SS50AAA-PLC

    產(chǎn)品介紹:美國進(jìn)口SS50AAA-PLC太陽模擬器是當(dāng)今高等級的太陽能模擬器，的用來模擬太陽輻照度和頻譜的設(shè)備
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:55:32 對比

  • 太陽能電池I-V特性分析系統(tǒng)：PET-CC

    產(chǎn)品介紹:太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測試無疑是最直觀、效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:53:25 對比

  • 激光橢偏儀：PH-LE

    多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準(zhǔn)確度
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:51:29 對比

  • 光譜橢偏儀：PH-SE

    光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:49:44 對比

  • 款無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3I

    產(chǎn)品介紹:MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描測試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:47:49 對比

  • 全自動光譜橢偏儀：PH-ASE

    全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:46:35 對比

  • 電阻率型號綜合測試儀：HS-PSRT

    電阻率型號綜合測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的硅料,硅棒硅塊硅片的電...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:44:52 對比

  • 硅料檢測分選儀：HS-3FCII

    產(chǎn)品介紹:合能陽光硅料檢測分選儀(HS-3FCII)，可以快速準(zhǔn)確檢測硅料的P/N型號、重?fù)?、電阻率和電?
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:43:27 對比

  • 紅外探傷儀：NIR-01

    紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點(diǎn)、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:42:04 對比

  • 少子壽命測試儀：HS-CLT

    合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:40:35 對比

  • 無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3

    合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強(qiáng)大，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電...
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:39:21 對比

  • 硅料分選重?fù)借嚕篐S-MRTT

    產(chǎn)品介紹:硅料分選重?fù)借嚕糜跈z測硅材料的輕重?fù)?，適用于小碎料、米粒料和各種細(xì)小廢料
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:37:45 對比

  • 硅料分選重?fù)焦P：HS-MPRT

    產(chǎn)品介紹:硅料分選重?fù)焦P(HS-MRPT)，用于檢測硅材料電阻率及材料的輕重?fù)?，適用于硅材料采購
    型號： 所在地： 參考價： 面議 更新時間：2022/3/12 11:36:21 對比
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